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湖南省精密仪器测试学会JEOL电子显微分析技术研讨会在长举行

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湖南省精密仪器测试学会JEOL电子显微分析技术研讨会在长举行

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6月25日,由湖南省精密仪器测试学会、湖南省分析测试协会、长沙矿冶研究院分析检测中心联合举办的“JEOL电子显微分析技术研讨会”在长沙隆重举行。来自电子显微分析技术的专家、学者以及一线的技术人员共60余人参加了研讨。

湖南省精密仪器测试学会理事、专业委员会副主任、长沙矿冶研究院分析检测中心杨林主任致欢迎辞,并向各位与会代表介绍了长沙矿冶研究院的发展规划及分析检测中心的相关情况。

会上,由日本电子、中南大学、DEAX公司的知名专家分别围绕场发射扫描电镜发展方向-低电压下的高空间分辨率、最新的高空间分辨率扫描电镜、电极材料电化学反应产物的透射电镜研究、电子探针在材料研究中的应用、透射电镜新进展等主题进行了现场研讨与交流,同时一起分享了在这些领域所取得的成功经验和技术成果。

为了进一步加深电镜分析技术的理论与实际操作的结合,会议还特别安排了上机操作演示,让与会者亲身体验了新技术的先进性和智能性,通过交流,促进了相关科研院所和企业之间的联系,拓宽了电子显微分析新方法、新技术的应用,收到良好的学习效果,得到参会技术人员的一致好评。

(省分析测试协会供稿)